成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI TM系列專用能譜儀（EDS）Quantax75
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產(chǎn)品名稱: 成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI TM系列專用能譜儀（EDS）Quantax75
產(chǎn)品型號(hào): Quantax75
產(chǎn)品展商: 日本日立HITACHI
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI TM系列專用能譜儀（EDS）Quantax75
:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例*:探測(cè)器內(nèi)置型
(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI TM系列專用能譜儀（EDS）Quantax75
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI TM系列專用能譜儀（EDS）Quantax75
的詳細(xì)介紹
通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布
移動(dòng)到指定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖
雙屏顯示
僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。
超高的性能（hyper map）成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果
點(diǎn)分析
可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。
實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。
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項(xiàng)目
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內(nèi)容
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探測(cè)器類型
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硅漂移探測(cè)器
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探測(cè)器面積
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30 mm2
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能量分辨率
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148 eV (Cu-Kα)
(Mn-Kα?xí)r不高于129 eV)
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可檢測(cè)元素
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B5～Cf98
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